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  • LDJD系列介電常數(shù)儀
    LDJD系列介電常數(shù)儀

    更新時間：2025-06-11

    型號：LDJD系列

    瀏覽量：3505

    LDJD系列介電常數(shù)儀是我司研發(fā)用于測試電氣或其他絕緣材料在高頻測試條件下的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的專用設(shè)備，系列包含LDJD-A、LDJD-B、LDJD-B三款型號，信號源頻率覆蓋范圍以及所能測試的Q值范圍均有所不同。
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  • QJ36S-2B數(shù)字直流低電阻測試儀
    QJ36S-2B數(shù)字直流低電阻測試儀

    更新時間：2025-06-11

    型號：QJ36S-2B

    瀏覽量：3477

    QJ36S-2B 數(shù)字直流低電阻測試儀為傳統(tǒng)的QJ36型直流電橋之升級換代產(chǎn)品，借鑒*技術(shù)基礎(chǔ)上，結(jié)合國內(nèi)線纜企業(yè)生產(chǎn)、測量的實(shí)際需要而研發(fā)，適合實(shí)驗(yàn)室及現(xiàn)場對直流低值電阻作準(zhǔn)確測量，測量范圍、測量電流、準(zhǔn)確度、靈敏度、分辨力等全面滿足國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 3048.2-2007《電線電纜電性能試驗(yàn)方法 第2部分：金屬材料電阻率試驗(yàn)》。
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  • GJW-100kV100kV高壓擊穿測試儀
    GJW-100kV100kV高壓擊穿測試儀

    更新時間：2025-06-11

    型號：GJW-100kV

    瀏覽量：2780

    GJW系列電壓擊穿測試儀是根據(jù)GB/T 1408系列標(biāo)準(zhǔn)研制而成，設(shè)備提供工頻高壓下的擊穿強(qiáng)度和耐壓時間的測試。100kV高壓擊穿測試儀電壓測試范圍為0-100kV，升壓速率可調(diào)。設(shè)備采用計(jì)算機(jī)控制，實(shí)時采集數(shù)據(jù)，可存取顯示和打印。
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  • LDJC-YS全自動絕緣油介質(zhì)損耗儀——航天偉創(chuàng)
    LDJC-YS全自動絕緣油介質(zhì)損耗儀——航天偉創(chuàng)

    更新時間：2025-06-11

    型號：LDJC-YS

    瀏覽量：2783

    全自動絕緣油介質(zhì)損耗儀——航天偉創(chuàng) LDJC-YS 全自動絕緣油介電強(qiáng)度測試儀是我公司精心研制開發(fā)的高準(zhǔn)確度、全數(shù)字化工業(yè)儀器。本測試儀采用了全自動數(shù)字化微機(jī)控制，所以測量精度高、抗干擾能力強(qiáng)、安全可靠。
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  • GJW-100kV（高溫）電壓擊穿測試儀
    GJW-100kV（高溫）電壓擊穿測試儀

    更新時間：2025-06-11

    型號：GJW-100kV

    瀏覽量：2804

    （高溫）電壓擊穿測試儀可測試5kV~150kV交流和直流耐壓測試，適用于硫化橡膠、塑料、電線電纜絕緣和護(hù)套材料、絕緣紙、酚醛樹脂、電容器紙等電氣絕緣材料。
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  • PC36直流電阻測試儀——航天偉創(chuàng)
    PC36直流電阻測試儀——航天偉創(chuàng)

    更新時間：2025-06-11

    型號：PC36

    瀏覽量：3674

    PC36C型直流電阻測試儀——航天偉創(chuàng) PC36 系列直流電阻測量儀是電線電纜導(dǎo)體直流電阻測量的儀表，測量快速、準(zhǔn)確、讀數(shù)穩(wěn)定、使用方便，是QJ57、QJ36 電橋的更新?lián)Q代產(chǎn)品。
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  • LDJC-100kV硫化橡膠耐電壓擊穿試驗(yàn)儀
    LDJC-100kV硫化橡膠耐電壓擊穿試驗(yàn)儀

    更新時間：2025-06-11

    型號：LDJC-100kV

    瀏覽量：2667

    LDJC-100kV硫化橡膠耐電壓擊穿試驗(yàn)儀 LDJC-100kV電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時間的測試。
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  • LDJD-A介電常數(shù)儀（電容率）
    LDJD-A介電常數(shù)儀（電容率）

    更新時間：2025-06-11

    型號：LDJD-A

    瀏覽量：3400

    介電常數(shù)儀（電容率）用于測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)。
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